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迅猛发展的太赫兹——太赫兹技术在无损检测中的应用
  • ISSN号：1004-373X
  • 期刊名称：《现代电子技术》
  • 时间：0
  • 分类：TN219[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构：[1]三江学院电子信息工程学院, [2]南京林业大学信息科学技术学院
  • 相关基金：国家自然科学基金项目(31200541)
作者： 王芳[1], 刘云飞[2]
关键词： 太赫兹(THz), 无损检测, 太赫兹成像, 太赫兹时域光谱技术
中文摘要：

太赫兹(THz)辐射是一种新型的远红外相干辐射源,具有很多独特的性质。利用太赫兹时域光谱技术和太赫兹成像技术实现无损检测,已经成为现有无损检测技术的有力补充。笔者介绍了太赫兹无损检测技术在多个领域的应用,论述了太赫兹技术在这些领域的检测原理,探讨了存在的问题,并对发展前景进行了展望。

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期刊信息
  • 《现代电子技术》
  • 北大核心期刊（2014版）
  • 主管单位:陕西省信息产业厅
  • 主办单位:陕西电子杂志社 陕西省电子技术研究所
  • 主编：张郁（执行）
  • 地址：西安市金花北路176号陕西省电子技术研究所科研生产大楼六层
  • 邮编：710032
  • 邮箱：met@xddz.com.cn
  • 电话：029-93228979
  • 国际标准刊号：ISSN：1004-373X
  • 国内统一刊号：ISSN：61-1224/TN
  • 邮发代号:52-126
  • 获奖情况:
  • 中国科技核心期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 波兰哥白尼索引,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊（2014版）
  • 被引量:37245