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一种面积有效的抗SEU锁存器设计研究
  • ISSN号：0018-9499
  • 期刊名称：IEEE Transactions on Nuclear Science
  • 时间：2014.12.1
  • 页码：-
  • 相关项目：面向空间应用深亚微米SOI集成器件辐照损伤机理研究
作者： 王海滨|毕津顺|
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