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SrO/Si(100)表面去氧过程的研究
  • ISSN号:1000-3290
  • 期刊名称:《物理学报》
  • 时间:0
  • 分类:O613.72[理学—无机化学;理学—化学]
  • 作者机构:[1]中国科学技术大学微尺度物质科学国家实验室,合肥230026
  • 相关基金:国家自然科学基金(批准号:50721091 10825415 60771006和50532040)资助的课题
作者: 杜文汉[1]
中文摘要:

借助高温扫描隧道显微镜和光电子能谱技术,深入研究了SrO/Si(100)表面向Sr/Si(100)再构表面的动态转化过程.Sr/Si(100)再构表面在硅基氧化物外延生长中起重要作用.在该动态转化过程中,样品在500℃的退火温度下,表面出现SrO晶化的现象;在550—590℃的退火温度下,SrO/Si(100)开始向Sr/Si(100)转化,界面和表面上的氧以气态的SiO溢出,使得表面出现大量凹槽状缺陷.并且在此动态转化过程中表面的电子态表现出金属特性,这是由于表层硅原子发生断键重排,从而在表面出现悬挂键产生的.

英文摘要:

Using high temperature scanning tunneling microscopy (STM) and XPS,we investigated the dynamic process of SrO/Si(100) changing to Sr/Si(100) reconstructed surface,which plays a critical role in the growth of crystalline oxide on silicon substrate. During this process we find some interesting phenomenan:there appears crystalline SrO on Si(100) substrate at low annealing temperature of 500 ℃ ; at higher annealing temperature of 550—590 ℃ ,the oxygen in the SrO/Si(100) interface will react with silicon and form volatile SiO,leading the surface with a large quantity of line vacancies. In the later case,there appears abnormal metallic property of this surface,which results from dangling bonds of silicon atoms in the surface.

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期刊信息
  • 《物理学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国物理学会 中国科学院物理研究所
  • 主编:欧阳钟灿
  • 地址:北京603信箱(中国科学院物理研究所)
  • 邮编:100190
  • 邮箱:apsoffice@iphy.ac.cn
  • 电话:010-82649026
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-3290
  • 国内统一刊号:ISSN:11-1958/O4
  • 邮发代号:2-425
  • 获奖情况:
  • 1999年首届国家期刊奖,2000年中科院优秀期刊特等奖,2001年科技期刊最高方阵队双高期刊居中国期刊第12位
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:49876