位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
超短电子脉冲展宽的外场依赖性分析
  • ISSN号:1672-7126
  • 期刊名称:《真空科学与技术学报》
  • 时间:0
  • 分类:O463.1[机械工程—光学工程;理学—电子物理学;理学—物理]
  • 作者机构:[1]中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点实验室,西安710119, [2]空军工程大学理学院,西安710051, [3]中国科学院研究生院,北京100049
  • 相关基金:国家自然科学基金项目(No.11175198)
中文摘要:

根据已有文献研究结果,建立了Boersch效应电子脉冲展宽物理分析模型,确立了以时间弥散特征参量为核心参数的电子脉冲展宽表征理论,以此为基础分析了超短电子脉冲展宽对外场的依赖性。结果表明:相比匀速漂移场,加速场具有较好的抑制电子脉冲展宽作用,而减速场则增大了电子脉冲展宽;对条纹相机和超快电子衍射仪等电子枪系统而言,除了已知的两个区域-光阴极附近和偏转板后等电位漂移空间之外,光电子脉冲从高电位向低电位传输时其时间弥散也是非常显著的。此结论对高性能电子枪工程设计具有重要的理论指导价值。

英文摘要:

Boersch effect of electron pulse broadening was modeled and analyzed, based on the existing results re- ported in literature. A theory to characterize the electron packet broadening was formulated, with the time dispersion char- acteristics as the major factor. The influence of the external electric field on the ultra-short electron packet broadening was evaluated, in the newly-developed theory. The results show that the external e-field, accelerating the electrons, suppresses the broadening;whereas the field, decelerating electrons, widens the broadening. In image-converter streak cameras and uhm-fast electron diffraction devices, there exist one non-equipatential and two known equi-potential regions:one situates in the vicinity of photocathode, the other lies behind the deflection plate. Our preliminary results are of much technological interest for design of high-performance electron gun, because significant time broadening originates from the transit of the photoelectron packet in the potential decreasing direction.

同期刊论文项目
同项目期刊论文
期刊信息
  • 《真空科学与技术学报》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学技术协会
  • 主办单位:中国真空学会
  • 主编:李德杰
  • 地址:北京朝阳区建国路93号万达广场9号楼614室
  • 邮编:100022
  • 邮箱:cvs@chinesevacuum.com
  • 电话:010-58206280
  • 国际标准刊号:ISSN:1672-7126
  • 国内统一刊号:ISSN:11-5177/TB
  • 邮发代号:
  • 获奖情况:
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:4421