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A Novel Approach for Analog Circuit Fault Prognostics Based on Improved RVM
  • ISSN号：0923-8174
  • 期刊名称：Journal of Electronic Testing-Theory and Applicati
  • 时间：2014
  • 页码：343-356
  • 相关项目：基于独立成分分析的模拟电路故障特征提取方法及应用
作者： 张朝龙|何怡刚|袁莉芬|邓芳明|
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