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New method for thickness determination and microscopic imaging of graphene-like two-dimensional materials
  • ISSN号：1674-4926
  • 期刊名称：《半导体学报：英文版》
  • 时间：0
  • 分类：TQ127.11[化学工程—无机化工] V257[一般工业技术—材料科学与工程;航空宇航科学与技术—航空宇航制造工程]
  • 作者机构：Key Laboratory of Semiconductor Materials Science and Beijing Key Laboratory of Low Dimensional Semiconductor Materialsand Devices, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China
  • 相关基金：Project supported by the State Key Development Program for Basic Research of China （Nos. 2012CB921304, 2013CB632805, 2012CB 619306） and the National Natural Science Foundation of China （No. 61474114）.
作者： Qin Xudong, Chen Yonghai, Liu Yu, Zhu Laipan, Li Yuan, Wu Qing, Huang Wei
关键词： 二维材料, 厚度测定, 显微成像, 石墨, 差分反射光谱, 图像显示, 二硫化钼, 表面形貌, graphene, two-dimensional materials, microscopic reflectance difference spectroscopy, microscopicmorphology, Raman spectra, surface topography
中文摘要：

Corresponding author. Email： yhchen@semi.ac.cn

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期刊信息
  • 《半导体学报：英文版》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国电子学会 中国科学院半导体研究所
  • 主编：李树深
  • 地址：北京912信箱
  • 邮编：100083
  • 邮箱：cjs@semi.ac.cn
  • 电话：010-82304277
  • 国际标准刊号：ISSN：1674-4926
  • 国内统一刊号：ISSN：11-5781/TN
  • 邮发代号:2-184
  • 获奖情况:
  • 90年获中科院优秀期刊二等奖,92年获国家科委、中共中央宣传部和国家新闻出版署...,97年国家科委、中共中央中宣传部和国家新出版署三等奖,中国期刊方阵“双效”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘（网络版）,荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊（2004版）,中国北大核心期刊（2008版）,英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊（2000版）
  • 被引量:7754