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一种低功耗高精度带隙基准的设计
  • ISSN号:0258-7998
  • 期刊名称:《电子技术应用》
  • 时间:0
  • 分类:TN433[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]西南交通大学微电子研究所,四川成都611756
  • 相关基金:国家自然科学基金重大项目(60990323);国家自然科学基金面上项目(61271090)
中文摘要:

基于UMC 0.25 μm BCD工艺,在传统带隙基准结构的基础上,设计了一种具有低功耗、高精度的基准,同时利用NMOS管工作在亚阈值区域时漏电流和栅极电压的指数特性,对基准温度特性曲线进行二阶补偿.仿真结果表明,电源电压5V时,静态电流功耗为3.16 μA;电源电压2.5V~5.5V,基准电压变化53 μV;温度在-40℃~130℃内,电路的温度系数为0.86×10-6/℃;三种工艺角下,低频时电路电源抑制比都小于-95 dB.

英文摘要:

A new bandgap reference voltage with low consumption and high-accuracy performance, which is based on UMC 0.25 μm BCD process and the traditional bandgap reference construct. It uses the exponential response curve between leakage current and grid voltage when the N type MOS-FET is working in the sub-threshold region to compensate the temperature characteristic curve. The simulation shows that quiescent current is 3.16 μA when power supply is 5 V. The change amplitude of reference voltage is 53 μV when the power supply is from 2.5 V to 5.5 V. The temperature coefficient is 0.86×10-6-/℃ from -40 % to 130 ℃. The PSRR is lower than-60 dB at the three process corner.

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期刊信息
  • 《电子技术应用》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子信息产业集团有限公司
  • 主办单位:华北计算机系统工程研究所
  • 主编:杨晖
  • 地址:北京市海淀区清华路25号
  • 邮编:100083
  • 邮箱:xinzw@ncse.com.cn
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  • 国际标准刊号:ISSN:0258-7998
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2305/TN
  • 邮发代号:2-889
  • 获奖情况:
  • 国家期刊奖,中文核心期刊奖,中国科技期刊奖,电子精品科技期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:20858