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Study on carrier lifetimes in InGaN multi-quantum well with different barriers by time-resolved phot
ISSN号:1521-3951
期刊名称:Phys. Status Solidi B
时间:2015.5.1
页码:956-960
相关项目:基于磁控溅射和金属诱导结晶的多晶硅薄膜
作者:
Lai Wang|Yucheng Xing|Zhibiao Hao|Yi Luo|
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