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Manipulating leakage behavior via distribution of interfaces in oxide thin films
  • ISSN号:0003-6951
  • 期刊名称:Applied Physics Letters
  • 时间:2014.8.18
  • 页码:-
  • 相关项目:Co基Z型六角铁氧体薄膜室温巨磁电耦合效应研究
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