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RTL代码域故障模型
  • 期刊名称：电路与系统学报 Vol.11 No.1 pp.76(2006.2)
  • 时间：0
  • 相关项目：基于测试压缩和LBIST的系统芯片低成本测试技术研究
作者： 罗春*、杨军、高谷刚、顾明
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