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Quantitative scanning evanescent microwave microscopy and its applications in characterization of fu
  • 期刊名称：Measurement Science and Technology
  • 时间：0
  • 作者或编辑：3448
  • 页码：Vol.16(1), 248-260
  • 语言：英文
  • 相关项目：导电性的定量近场微波显微术及在超导微波器件中的应用
作者： C Gao|B Hu|I Takeuchi|KS Chang|XD Xiang|and G Wang|
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