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Enhanced thin-slot formalism for the FDTD analysis of thin -slot penetration
  • 期刊名称：IEEE Microwave and Guided Wave Letters
  • 时间：0
  • 作者或编辑：3448
  • 第一作者所属机构：电子科技大学
  • 页码：1995,Vol.5,No.5
  • 语言：英文
  • 相关项目：机箱抗电磁干扰性能的数值仿真及子波分析
作者： 王秉中|
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