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电光采样(EOS)法测量超短电子束束团长度中的模拟计算与误差分析
  • ISSN号:1674-1137
  • 期刊名称:《中国物理C:英文版》
  • 时间:0
  • 分类:O4[理学—物理]
  • 作者机构:[1]中国科学院高能物理研究所,北京,t00049 中国科学院高能物理研究所,北京,t00049 中国科学院高能物理研究所,北京,t00049
  • 相关基金:国家自然科学基金项目(10575116)资助
中文摘要:

随着高能物理的发?高能量正负电子对撞机,射线自由电子激光器,先进的同步光源等,都需要产生高流强超短脉冲的相对论电子束团.于是,亚皮秒电子束束团诊断成为加速器物理新发展的关键技术,电子束长度的监测是其中的一部分.电光采样(EOS)法测量超短电子束团长度有非侵入、非破坏、实时测量的特点,具有较好的应用前景.本文介绍该方法的原理,通过模拟计算分析电子束束团与探测光间距、电子束电场与电光晶体晶轴夹角、探测光偏振方向与电光晶体晶轴夹角等实验参数与束团长度测量的关系,做系统误差分析,对实际实验有指导意义.

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期刊信息
  • 《中国物理C:英文版》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国物理学会 中国科学院高能物理研究所 中国科学院近代物理研究所
  • 主编:王贻芳
  • 地址:北京市玉泉路19号(乙)
  • 邮编:100049
  • 邮箱:cpc@mail.ihep.ac.cn
  • 电话:010-88235947
  • 国际标准刊号:ISSN:1674-1137
  • 国内统一刊号:ISSN:11-5641/O4
  • 邮发代号:2-522
  • 获奖情况:
  • 2000年获中国科学院优秀期刊评比一等奖,中国期刊方阵“双百”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国剑桥科学文摘,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,英国英国皇家化学学会文摘
  • 被引量:189