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基于多故障模型的并发测试生成方
  • 期刊名称：计算机工程与应用．43（29）．2007年
  • 时间：0
  • 相关项目：系统芯片SoC外建自测试方法研究
作者： 欧阳一鸣，鲁传武，梁华国
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系统芯片SoC外建自测试方法研究
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