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基于部分扫描的低功耗内建自测试
  • 期刊名称：固体电子学研究与进展 Vol.25 No.1 pp.72(2005.2)
  • 时间：0
  • 相关项目：基于测试压缩和LBIST的系统芯片低成本测试技术研究
作者： 李杰*、李锐、杨军、凌明
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