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利用偏振干涉成像光谱仪进行偏振探测的新方法
  • 期刊名称:物理学报, 2008,52(12):7565-7570
  • 时间:0
  • 分类:TP73[自动化与计算机技术—控制科学与工程;自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置] TH744.1[机械工程—光学工程;机械工程—仪器科学与技术;机械工程—精密仪器及机械]
  • 作者机构:[1]西安交通大学理学院,西安710049, [2]中国科学院西安光学精密机械研究所,西安710068
  • 相关基金:国家自然科学基金重点项目(批准号:40537031)、国家高技术研究发展计划(批准号:2006AA122152)、国防基础科学研究计划(批准号:A1420080187)、国家自然科学基金(批准号:40375010,60278019,40875013)、陕西省科技攻关计划(批准号:2001K06-G12,2005K04-G18)和西安交通大学科研计划资助的课题.
  • 相关项目:微型、宽覆盖、宽谱段、高分辨新型偏振干涉成像光谱技术
中文摘要:

以往对干涉成像光谱仪的研究通常仅限于对光的干涉特性的利用,即由目标干涉图得到其光谱图,而忽略了其丰富的偏振信息.为了在利用光的干涉特性的同时还充分利用光的偏振特性,在原有偏振干涉成像光谱仪的基础上,结合现有的干涉成像光谱技术与偏振探测原理,提出了一种利用现有偏振干涉成像光谱仪获取探测目标的偏振参数(偏振度、偏振方位角等)的新方法,并对其精度误差进行了理论分析,证明了其不但具有较高的稳定性而且具有极高的测量精度.因此,若把以往的偏振干涉成像光谱仪看作是照相机与光谱仪功能的结合,则现在可以将之理解为成像仪、光谱仪、偏光仪功能的一体化.这意味着偏振干涉成像光谱仪在目标信息的提取与目标识别方面比以往又多了一种的新手段.

英文摘要:

It is a common method to use the interferential characteristics of light to detect the object in the polarization interference imaging spectrometer system, but the polarized characteristics are usually ignored. In this paper, an advanced way, which combines the basic theories of polarization interference imaging spectroscopy and polarization measurement technology, is studied and used to detect the polarization parameters ( e. g. degree of polarization, azimuth angle of polarization), and the error is analyzed, which proves that the system is very stable and precise in theory. Now the polarization interference imaging spectrometer can be used not only as cameras and interferometers but also as polaristrobometers, because the polarized characteristics of the light are made good use of to analyse and distinguish the object in a new way.

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