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Analysis of improvement amount of typical micro-scanning modes to IR imagery quality
  • 期刊名称：Infrared Physics & Technology
  • 时间：0
  • 作者或编辑：3448
  • 第一作者所属机构：西安电子科技大学
  • 页码：Vol.46(5)，412-417，2005
  • 语言：英文
  • 相关项目：基于红外成像系统模型的动态性能评估
作者： Xiao-rui Wang|Jian-qi Zhang|Zhuo-xiang Feng|Hong-hua Chang|
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