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基于多层膜偏振元件的同步辐射光束线偏振特性测量研究
  • 期刊名称:高能物理与核物理,31(4),P400-404,2007
  • 时间:0
  • 分类:O484[理学—固体物理;理学—物理]
  • 作者机构:[1]中国科学院高能物理研究所,北京100049, [2]同济大学,上海200092
  • 相关基金:国家自然科学基金(10275078,10435050)资助
  • 相关项目:同步辐射软X射线偏振测量基础技术研究
中文摘要:

利用自行研制的同步辐射软X射线多层膜综合偏振测量装置,对北京同步辐射装置(BSRF)的3W1B软X射线光束线的偏振特性进行了系统的研究.给出了多层膜偏振元件起偏前后的测量结果,测量能量为206eV时,经反射镜、光栅等光束线光学元件后输出的线偏振度(起偏前)为0.585,经多层膜偏振元件起偏后输出光的线偏振度达No.995.

英文摘要:

Using the home-made synchrotron radiation soft X-ray polarimeter based on multilayer elements, the polarization characteristics of the Beamline 3W1B have been measured at Beijing Synchrotron Radiation Facility (BSRF). This paper compares the measuring results of using polarizer with the results without the polarizer at 206eV. The degree of linear polarization without the polarizer is 0.585. However, the degree of linear polarization is up to 0.995 when the beam is polarized by multilayer optical elements.

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