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On-Chip Generating FPGA Test Conguration Bitstreams to Reduce Manufacturing Test Time
  • ISSN号：1022-4653
  • 期刊名称：Chinese Journal of Electronics
  • 时间：2016.1.1
  • 页码：1-6
  • 相关项目：基于测试配置片上变换的FPGA并行测试方法研究
作者： 王飞|
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