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Flying-Height Measurement With a Symmetrical Common-Path Heterodyne Interferometry Method
  • ISSN号:0018-9464
  • 期刊名称:IEEE Transactions on Magnetics
  • 时间:0
  • 页码:928-932
  • 语言:英文
  • 相关项目:微纳制造中的表面/界面行为及控制技术研究
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