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嵌入式非平衡超结LDMOST
  • ISSN号:1000-3819
  • 期刊名称:《固体电子学研究与进展》
  • 时间:0
  • 分类:TN386[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原030051, [2]中北大学电子测试技术国家重点实验室,太原,03005i
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(61106077)
中文摘要:

提出一种嵌入式非平衡超结器件结构,在n型外延层上通过高能注人间隔的P型埋层,形成嵌入式的超结结构。n型电荷与P区在四周形成电荷耗尽,相对于常规的超结更利于提高漂移区浓度,改善导通电阻;同时,器件的表面是完整的n型区,缓解了场氧工艺中吸硼排磷效应对超结的影响,有利于控制超结的电荷平衡。三维器件仿真结果表明,在漂移区长度为10μm时,新结构下的器件耐压达到220V,而导通电阻为常规超结LDMOST的76%。

英文摘要:

A device structure with embedded unbalanced super junction (SJ) is proposed in this paper. The spaced p-type buried layers are implemented in n-type epitaxial layer by high-en- ergy implantation process to form the embedded SJ structure. N-type charges are depleted with p region from four directions, which increases the concentration of drift region compared with con- ventional SJ structure and reduces the on-resistance. Moreover, the complete n-type surface re- lieves the influence of field oxide process on SJ, which conduces to control the charge balance of SJ. Three-dimensional device simulation results indicate that the breakdown voltage of proposed device achieves 220 V at drift length of 10μm, and the on-resistance is reduced to 76 % compared with that of conventional SJ-LDMOST.

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期刊信息
  • 《固体电子学研究与进展》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子科技集团公司
  • 主办单位:南京电子器件研究所
  • 主编:杨乃彬
  • 地址:南京中山东路524号(南京160信箱43分箱)
  • 邮编:210016
  • 邮箱:gtdz@chinajournal.net.cn
  • 电话:025-86858161
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-3819
  • 国内统一刊号:ISSN:32-1110/TN
  • 邮发代号:
  • 获奖情况:
  • 中国期刊方阵双效期刊,江苏省第六届优秀期刊,工信部09-10年期刊编辑质量优秀奖
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:2461