位置：成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
AFM Force Mapping for Characterizing Patterns of Electrostatic Charges on SiO2 Electrets
  • ISSN号：0743-7463
  • 期刊名称：Langmuir
  • 时间：0
  • 页码：11958-11962
  • 语言：英文
  • 相关项目：非传统方法制备超精细纳米结构及其应用
作者： Tan, Xinxin|Zhang, Xi|Zhao, Dan|Zhang, Yiheng|Cao, Tingbing|
同期刊论文项目
非传统方法制备超精细纳米结构及其应用
期刊论文 11
同项目期刊论文
Selective Discharge of Electrostatic Charges on Electrets Using a Patterned Hydrogel Stamp
Micro/Nano Patterning of Phenolic Resin Using Hot Microcontact Printing
Processing of Graphene for Electrochemical Application: Noncovalently Functionalize Graphene Sheets
Well-positioned metallic nanostructures fabricated by nanotransfer edge printing
热微接触印刷制备酚醛树脂微纳米图案