位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
Determination of thickness and dielectric constant of thin films by dual-wavelength light beaming ef
  • 期刊名称:J. Appl. Phys.
  • 时间:0
  • 页码:034305-1-034305-4
  • 语言:英文
  • 相关项目:新型表面等离子体光学金属纳米结构和器件的设计、制作和应用
作者: 汪国平|
同期刊论文项目
同项目期刊论文