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表面处理对碳化硅直接键合的影响研究
  • ISSN号:1002-1841
  • 期刊名称:《仪表技术与传感器》
  • 时间:0
  • 分类:TN305[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:中北大学,仪器科学与动态测试教育部重点实验室,电子测试技术国防科技重点实验室,山西太原030051
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(51405454)
中文摘要:

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英文摘要:

To many MEMS devices in high temperature environment,SiC direct bonding has very significant application value,however,the surface treatment of SiC wafer becomes a key of direct bonding.In the design,the improved wet cleaning method and a plasma treatment were used to treat the wafer surface,thus the wafer that meets cleanliness and roughness to direct bonding was obtained.Finally,hot embossing technology was used successfully to achieve SiC direct bonding and obtain the ideal bonding strength and its bonding is about 14.47 MPa.

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期刊信息
  • 《仪表技术与传感器》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:沈阳仪表科学研究院
  • 主办单位:沈阳仪表科学研究院
  • 主编:刘凯
  • 地址:沈阳市大东区北海街242号
  • 邮编:110043
  • 邮箱:bjb@17sensor.com
  • 电话:024-88718630 88718620
  • 国际标准刊号:ISSN:1002-1841
  • 国内统一刊号:ISSN:21-1154/TH
  • 邮发代号:8-69
  • 获奖情况:
  • 2007年获得北方优秀期刊奖,2007年荣获机械工业期刊质量评审一等奖
  • 国内外数据库收录:
  • 波兰哥白尼索引,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:16968