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Analysis of second-harmonic generation microscopy under refractive index mismatch
  • ISSN号：1009-1963
  • 期刊名称：CHINESE PHYSICS
  • 时间：0
  • 页码：3285-3289
  • 语言：中文
  • 相关项目：高数值孔径二次谐波显微术的机理研究
作者： Wang Xiang-Hui|Lin Lie|Zhang Yang|
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高数值孔径二次谐波显微术的机理研究
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