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Effects of electric field annealing on the interface diffusion of Cu/Ta/Si stacks
  • ISSN号:0169-4332
  • 期刊名称:Applied Surface Science
  • 时间:2011.10.10
  • 页码:10845-10849
  • 相关项目:多面体晶粒构建金属纳米线的调控制备、生长机理及性能研究
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