欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
成果数据库
>
期刊
> 期刊详情页
Testable Critical Path Selection Considering Process Variation
ISSN号:0916-8532
期刊名称:IEICE Transactions on Information and Systems
时间:0
页码:59-67
语言:英文
相关项目:避免过度测试的时延测试生成方法
作者:
Huawei Li|Xiaowei Li|Xiang Fu|
同期刊论文项目
避免过度测试的时延测试生成方法
期刊论文 28
会议论文 18
专利 4
同项目期刊论文
基于SAT的快速电路时延计算
考虑工作负载影响的电路老化预测方法
采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法
Flip-flop selection for partial enhanced-scan delay testing with high transition fault coverage
Selected transition time adjustment for tolerating crosstalk effects on network-on-chip interconnect
Path delay test generation toward activation of worst case coupling effects
基于输出违例概率的时延向量测试质量评估
Selected crosstalk avoidance code for reliable network-on-chip
Design-for-testability features and test implementation of a giga hertz general purpose microprocess
面向最大串扰噪声的测试生成方法
SoC总线串扰的精简MT测试集
通过器件共享实现的双向无阻塞光互连片上网络
Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor