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Single event upset induced multi-block error and its mitigation strategy for SRAM-based FPGA
  • ISSN号:1006-9321
  • 期刊名称:Science in China - Series E: Technological Science
  • 时间:2011.10
  • 页码:2657-2664
  • 相关项目:SRAM型FPGA单粒子故障的“逻辑探针”间接检测方法研究
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