利用电子显微术对石墨/镁基复合材料界面附近热应力造成的残余应变,位错结构及孪晶进行了分析与观察,位错形成于基体界面区,在切向,径向及轴向力的作用下向基体运动。在界面处存在一厚度为约为150nm的应变层,在基体狭窄区存在应变集中现象。