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The effect of injection damage on a silicon bipolar low-noise amplifier
  • ISSN号：0268-1242
  • 期刊名称：Semiconductor Science and Technology
  • 时间：0
  • 页码：035003-1-035003-9
  • 语言：英文
  • 相关项目：半导体器件与电路的“响应型”损伤机理与实验研究
作者： Chai, Changchun|Zhang, Bing|Rao, Wei|Leng, Peng|Yang, Yintang|Yang, Yang|
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期刊论文 34 会议论文 7 专利 2
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