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Dual unit scanning tunneling microscope-atomic force microscope for length measurement based on refe
  • 期刊名称：J.Vac.Sci.Technol.B, SCI收录
  • 时间：0
  • 作者或编辑：3448
  • 第一作者所属机构：浙江大学
  • 页码：1997.7,15(4),P780-784
  • 语言：英文
  • 相关项目：基于扫描隧道显微术的电化学微细加工机理和方法研究
作者： Haijuu Zhang|Feng Huang|Toshiro Higuchi|
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