位置：成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
电子辐照SiGe HBT和Si BJT直流特
  • 期刊名称：核技术 28-3（2005）213－216
  • 时间：0
  • 相关项目：CMOS图像传感器的电子和质子辐照损伤机理研究
同期刊论文项目
CMOS图像传感器的电子和质子辐照损伤机理研究
期刊论文 17 会议论文 6
同项目期刊论文
Dark Output Characteristic of
Effects of Proton Irradiation
Effects of electron and Gamma-
Gamma-ray radiation and anneal
Electron irradiation effects o
γ射线辐照对数字型彩色CMOS图像
Performance Analysis of Gamma-
Degradation of B&W CMOS digita
The DC Characteristics of Gamm
中子辐照对彩色CMOS图像传感器性
Difference in electron- and ga
Electrical Performance of Elec
辐照对SiGe HBT增益的影响
中子辐照对彩色CMOS图像传感器性能的影响
γ射线辐照对数字型彩色CMOS图像传感器输出特性的影响