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Scanning Tunneling Microscopy Study on the Ultrastable Si(337)-4 x 1 Terrace Formed by Annealing Si(
  • ISSN号：0374-4884
  • 期刊名称：JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY
  • 时间：0
  • 页码：120-123
  • 相关项目：利用UHV-STM研究碳元素诱导的高密勒指数硅表面的表面重构
作者： Zhu, Yong-Zhe|Kim, Hidong|Seo, Jae M.|
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