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Enhanced bias stress stability of a-InGaZnO thin film transistors by inserting an ultra-thin interfa
  • ISSN号:0003-6951
  • 期刊名称:Applied Physics Letters
  • 时间:2013
  • 页码:193505-
  • 相关项目:高Al组分AlGaN宽禁带半导体量子结构及其光探测器件的基础研究
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