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可演化TMR容错表决电路的设计研究
  • ISSN号:1003-353X
  • 期刊名称:《半导体技术》
  • 时间:0
  • 分类:TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]军械工程学院静电与电磁防护研究所,河北石家庄050003, [2]军械工程学院计算机教研室,河北石家庄050003, [3]河北科技大学信息科学与工程学院,石家庄050054
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(50237040,50077024)
中文摘要:

在高温、辐射等恶劣环境下微电子设备的可靠性要求越来越高,利用演化硬件(EHW)原理,将EHW技术与三模块冗余(TMR)容错技术相结合,在FPGA上实现可演化的TMR表决电路,使硬件本身具有自我重构和自修复能力,大大提高了系统的可靠性。

英文摘要:

the EHW technique is combined with the TMR fault-tolerant technique to complete the evolvable TMR voting circuit in FPGA, which can make the circuit possess the self-reconfiguration and self-recovery ability and can eventually improve the reliability of the micro-electronic devices working in extreme environment.

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期刊信息
  • 《半导体技术》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子科技集团公司
  • 主办单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 主编:赵小玲
  • 地址:石家庄179信箱46分箱
  • 邮编:050051
  • 邮箱:informax@heinfo.net
  • 电话:0311-87091339
  • 国际标准刊号:ISSN:1003-353X
  • 国内统一刊号:ISSN:13-1109/TN
  • 邮发代号:18-65
  • 获奖情况:
  • 中文核心期刊,中国科技论文统计用刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:6070