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一种基于改进RAS架构的 SOC测试方法
  • 期刊名称：《中国科学技术大学学报》,2009, 39(5):552-557
  • 时间：0
  • 相关项目：数字VLSI电路测试技术研究
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数字VLSI电路测试技术研究
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