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基于折叠计数器的低功耗确定 BIST方案
  • 期刊名称：仪器仪表学报(增刊II)
  • 时间：0
  • 页码：179-183
  • 语言：中文
  • 相关项目：控制器的内建自恢复与内建自测试研究
作者： 陈田|梁华国|李鑫|王伟|易茂祥|
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控制器的内建自恢复与内建自测试研究
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