位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
高场强方波电压对聚酰亚胺陷阱参数的影响
  • ISSN号:1003-6520
  • 期刊名称:《高电压技术》
  • 时间:0
  • 分类:TM85[电气工程—高电压与绝缘技术]
  • 作者机构:[1]西南交通大学电气工程学院,成都610031
  • 相关基金:国家自然科学基金(50377035);霍英东教育基金(91060);教育部博士点基金(20050613008).
中文摘要:

变频电机绝缘长期承受高场强方波电压的作用,出现了绝缘过早失效的情况。聚酰亚胺是变频电机中重要的绝缘材料,为了解它不同承受电压形式时其绝缘老化过程和失效机理与传统交、直流电压下存在的很大差异,在高场强方波电压下对聚酰亚胺膜进行电老化,测试了不同老化时间后聚酰亚胺膜的电导电流和热刺激电流(TSC)以分析聚酰亚胺膜活化能和陷阱密度等微观参数的变化规律。结果表明:聚酰亚胺膜TSC曲线可能由2个单峰曲线叠加而成,随着电老化时间的增长,聚酰亚胺膜活化能发生变化,浅陷阱可发展成深陷阱,导致浅陷阱密度逐渐减小,深陷阱密度逐渐增大,总体陷阱密度逐渐增大。

英文摘要:

Thermally stimulated current(TSC) is the depolarization current in dielectrics after polarization.It is a powerful technique to study the space charge accumulation and the trapping parameters in the dielectrics.These parameters could reflect the ageing degree of dielectric.In order to study the change regularity of trap parameters in polyimide under high stress step voltage,the thermally stimulated current and conductive current were measured during the electrical ageing process.The test results show that the TSC curve of polyimide is a compound curve of two single-peaked curves.Low temperature single-peaked curve corresponds with structure of shallow traps and the other one corresponds with structure of deep traps.The activation energy of traps varies with the increasing of ageing time.The shallow traps turn into deep traps,resulting in the density of shallow traps reduced and the density of deep traps increased.The increase in the total density of the trap in polyimide indicates that the ageing degree would be more serious.

同期刊论文项目
同项目期刊论文
期刊信息
  • 《高电压技术》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:国家电力公司
  • 主办单位:国网武汉高压研究院 中国电机工程学会
  • 主编:郭剑波
  • 地址:湖北省武汉市珞瑜路143号
  • 邮编:430074
  • 邮箱:hve@whvri.com
  • 电话:027-59835528
  • 国际标准刊号:ISSN:1003-6520
  • 国内统一刊号:ISSN:42-1239/TM
  • 邮发代号:38-24
  • 获奖情况:
  • 历届电力部优秀期刊,历届湖北省优秀期刊,中国期刊方阵“双效”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),波兰哥白尼索引,荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:35984