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Strain at Native SiO(2)/Si(111) Interface Characterized by Strain-Scanning Second-Harmonic Generatio
  • ISSN号:0018-9197
  • 期刊名称:IEEE Journal of Quantum Electronics
  • 时间:2011.1.1
  • 页码:55-59
  • 相关项目:飞秒激光微纳加工在高性能微光学元件制造中的应用基础研究
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