欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
成果数据库
>
期刊
> 期刊详情页
<span style="color:black;font-family:宋体;font-size:10.5pt;">基于</span><span s
期刊名称:计算机科学(专刊)
时间:2013.7.1
页码:25-28
相关项目:容忍软错误的SoC芯片可靠性设计关键技术研究
作者:
王镜淞|梁华国|丁贤庆|黄正峰|
同期刊论文项目
容忍软错误的SoC芯片可靠性设计关键技术研究
期刊论文 41
会议论文 6
获奖 1
同项目期刊论文
一种容忍老化的多米诺门
簇式三维片上网络通信压力弱化策略
一种基于二分查找的电路选择性加固方案
基于虚通道故障粒度划分的3D NoC容错路由器设计
面向非全互连3D NoC可靠通信的分布式路由算法
三维片上网络TSV复用容错策略
利用少数相关位的SoC测试数据压缩方法
3D NoC的冗余双向TSV容错设计
一种消除浮空点的多功能稳定性检测器
基于功能复用的抗老化BIST设计
A fault detection sensor for circuit aging using double-edge-triggered flip-flop
低开销的信号违规检测结构LSVD
基于内建自测的软错误与老化在线检测
AN IMPROVED AGING-PREDICT SCHEME BASED ON SYMMETRICAL NOR GATE
混合交换机制NoC系统建模和仿真速度优化
三维片上网络故障及拥塞感知的容错路由器设计
一种可配置的老化预测传感器设计
一种低开销的抗SEU锁存器
NoC架构下异构IP核的并行测试方法
基于动态优先级的3D NoC偏转路由容错方法
基于电路故障预测的高速老化感应器
基于时序优先的电路容错混合加固方案
时序敏感的容软错误电路选择性加固方案
<span style="color:black;font-family:宋体;font-size:12pt;"><strong>一种低漏电流和缓解NBTI
<span style="color:black;font-family:宋体;font-size:10.5pt;">基于动态部分重构的三模冗余容错技术研究</s
基于折叠计算的多扫描链BIST方案
一种基于功能复用的容错扫描链电路结构
基于优化编码的LFSR重播种测试压缩方案
微带线不连续性辐射研究
基于时-空冗余的集成电路老化失效防护方法
一种新颖高效抗SEU/SET锁存器设计
容忍单粒子多节点翻转的三模互锁加固锁存器
A low-leakage and NBTI-mitigated N-type domino logic
考虑NBTI效应的组合电路软错误率计算方法
考虑单粒子多瞬态故障的数字电路失效概率评估
考虑工艺偏差的容软错误锁存器设计
AN IMPROVED AGING-PREDICT SCHEME BASED ON SYMMETRICAL NOR GATE
一种故障通道隔离的低开销容错路由器设计