Testing content addressable memories with physical fault models
- ISSN号：1674-4926
- 期刊名称：Journal of Semiconductors
- 时间：0
- 页码：085001-1-085001-7
- 语言：中文
- 分类：TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构;自动化与计算机技术—计算机科学与技术] TP302.8[自动化与计算机技术—计算机系统结构;自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
- 作者机构：[1]Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190, China, [2]Graduate University of the Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China
- 相关基金：Project supported by the National Natural Science Foundation of China （No. 60603049）, the National High Technology Research and Development Program of China （Nos. 2008AA110901, 2007AA01Z112, 2009AA01Z125）, the State Key Development Program for Basic Research of China （No. 2005CB321600）, and the Beijing Natural Science Foundation （No. 4072024）.
- 相关项目：采用形式化引擎加速处理器仿真验证收敛的关键技术研究
关键词：
内容可寻址存储器, 测试算法, 故障模型, 物理故障, 身体, 输出信号, 分子物理, 匹配算法, content addressable memory, test algorithm, physical fault model
中文摘要：
Corresponding author. Email： lma@ict.ac.cn
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