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三极管2SC3312方波电磁脉冲效应实验研究
  • ISSN号:1003-353X
  • 期刊名称:《半导体技术》
  • 时间:0
  • 分类:O472[理学—半导体物理;理学—物理]
  • 作者机构:[1]张家口职业技术学院基础部,河北张家口075051, [2]军械工程学院静电与电磁防护研究所,河北石家庄050003
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(50237040)
中文摘要:

目的研究硅微波低噪声三极管2SC3312对方波电磁脉冲的敏感部位和灵敏参数.方法利用方波电磁脉冲发生器对三极管进行方波电磁脉冲注入,观察三极管电参数的变化.结果沿CB注入方波脉冲时最小损伤电压为30V-50V,最小损伤能量为2.80J-3.10J;沿EB注入方波脉冲时最小损伤电压为85V-125V,最小损伤能量为22.60J-23.50J.三极管损伤前最先发生变化的电参数是CE反向击穿电压.结论三极管2SC3312对方波电磁脉冲最敏感的部位是集电结(CB),最灵敏参数是CE反向击穿电压VBRCEO.

英文摘要:

Objective To study the sensitive part and the sensibility parameter on square wave electromagnetic pulse for silicon micro wave low-noise triod 2SC3312. Methods By injecting the square wave electromagnetic pulse into triod with High Frequency Noise Simulator we can observe the change of electricity parameter. Results It is discovered that the injection of the square wave electromagnetic pulse along CB results in the loss of voltage (30V-50V) and energy (2.80J-3.10J) ; the injection along EB results in the loss of voltage (85V-125V) and energy (22.60J-23.50J). The earliest change of electricity parameter taking place before the damage of triod is the reverse breakdown voltage VBRCEO between collector and emitter. Conclusion The experiment shows that the triode's most sensitive position of square wave electromagnetic pulse is the collector junction. The most sensitive parameter is the reverse breakdown voltage VBRCEO between collector and emitter.

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期刊信息
  • 《半导体技术》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子科技集团公司
  • 主办单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 主编:赵小玲
  • 地址:石家庄179信箱46分箱
  • 邮编:050051
  • 邮箱:informax@heinfo.net
  • 电话:0311-87091339
  • 国际标准刊号:ISSN:1003-353X
  • 国内统一刊号:ISSN:13-1109/TN
  • 邮发代号:18-65
  • 获奖情况:
  • 中文核心期刊,中国科技论文统计用刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:6070