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约束输入精简的多扫描链BIST方案
  • 期刊名称:《计算机辅助设计与图形学报》, 19(3):371-375, 2007年3月
  • 时间:0
  • 分类:TP206.1[自动化与计算机技术—控制科学与工程;自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
  • 作者机构:[1]合肥工业大学计算机与信息学院,合肥230009, [2]合肥工业大学理学院,合肥230009
  • 相关基金:国家自然科学基金(90407008);国家自然科学基金重点项目(60633060);安徽省自然科学基金(050420103).
  • 相关项目:数字VLSI电路测试技术研究
中文摘要:

运用有约束的输入精简、LFSR编码与折叠计数器技术,实现了对确定性测试集的压缩与生成.其主要优点是将多种测试方法有机地结合在一起,充分地发挥了各种方法在压缩测试数据方面的优势.与国际上同类方法相比,该方案需要的测试数据存储容量更少,测试应用时间明显缩短,总体性能得到提升;并且能够很好地适应于传统的EDA设计流。

英文摘要:

Constrained input reduction, LFSR coding and folding counter are applied to compress and generate a deterministic test set. Its highlight is effectively combining previous several test methods and taking full advantage of the methods in test data compression. Compared to international similar approaches, the proposed scheme needs less storage volume, can reduce testing time significantly, fully upgrade test performance, and is compatible with traditional scan-based design flow.

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