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Improved step stress accelerated life testing method for electronic product
  • ISSN号：0026-2714
  • 期刊名称：Microelectronics Reliability
  • 时间：2012
  • 页码：2773-2780
  • 相关项目：基于多元加速性能退化数据的电液伺服机构可靠性评估方法研究
作者： Qingchuan, He1|Wenhua, Chen1|Jun, Pan1|Ping, Qian1|
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