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硅基混合集成技术的研究进展
  • 期刊名称:物理
  • 时间:0
  • 页码:28-32
  • 语言:中文
  • 分类:TN45[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]华中科技大学光电子科学与工程学院,武汉430074, [2]武汉光电国家实验室(筹),武汉430074, [3]中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室,北京100083
  • 相关基金:国家自然科学基金(批准号:60806016)资助项目
  • 相关项目:基于表面等离子体局域增强效应的纳米晶硅微盘发光机制研究
中文摘要:

硅基光电子集成技术(PICs)为高速宽带光互连和光通信的发展提供了一种低成本的有效方案,受到人们的高度重视.目前将Ⅲ-Ⅴ族和锗等半导体化合物集成到硅衬底的方法主要分为两类:异质结外延生长和异质材料的键合.低温下晶片键合的方法克服了异质结外延生长中的生长温度高、晶格失配和材料热膨胀系数非共容性的缺点,为大规模的异质(不同半导体材料)集成提供了可能.文章综述了近几年来一些常用的键合方法,并对低温键合方法的发展动向做了展望.

英文摘要:

Recently, much attention has concentrated on silicon based photonic integrated circuits (PICs), which provide a cost-effective solution for high speed, wide bandwidth optical interconnection and optical communication. To integrate Ⅲ-Ⅴ compounds and germanium semiconductors on silicon substrates, at present there are two kinds of manufacturing methods, i. e. , heteroepitaxy and bonding. Low-temperature wafer bonding which can overcome the high growth temperature, lattice mismatch, and incompatibility of thermal expansion coefficients during heteroepitaxy, has offered the possibility for large-scale heterogeneous integration. In this paper, several commonly used bonding methods are reviewed, and the future trends of low temperature wafer bonding envisaged.

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