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Dependability evaluation of integrated circuits at design time against laser fault injection
  • ISSN号：1939-0114
  • 期刊名称：Security and Communication Networks
  • 时间：0
  • 页码：450-461
  • 相关项目：在设计阶段验证密码芯片安全程度的方法
作者： Li, Huiyun|Yuan, Hai|
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