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Probing negative differential resistance on Si(111)-root 3 x root 3-Ag surface with scanning tunneli
  • ISSN号:0003-6951
  • 期刊名称:Applied Physics Letters
  • 时间:0
  • 页码:7958-7959
  • 语言:英文
  • 相关项目:利用STM对功能结构单分子体系的量子输运性质研究
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