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纳米尺度超低漏电ESD电源钳位电路研究
  • ISSN号:0479-8023
  • 期刊名称:北京大学学报(自然科学版)
  • 时间:2014.7
  • 页码:595-599
  • 分类:TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构;自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
  • 作者机构:[1]北京大学微电子学研究院、教育部微电子器件与电路重点实验室,北京100871
  • 相关基金:国家重点基础研究发展计划(2011CBA00606)和国家自然科学基金青年基金(61106101)资助
  • 相关项目:纳米尺度SOI器件ESD工艺方法、模型模拟和器件结构研究
中文摘要:

提出一种新型超低漏电ESD电源钳位电路。该电路采用具有反馈回路的ESD瞬态检测电路,能够减小MOS电容栅极—衬底之间电压差,降低电路的泄漏电流,抑制ESD泄放器件的亚阈值电流。65nm CMOS工艺仿真结果表明,在电路正常上电时,泄漏电流只有24.13 nA,比传统ESD电源钳位电路的5.42μA降低两个数量级。

英文摘要:

A novel electrostatic discharge (ESD) power clamp circuit with ultra-low leakage current is proposed. An ESD transient detective circuit with feedback loop is used to reduce the voltage between the bulk and gate of MOS capacitor, which results in a ultra-low leakage current performance of novel circuit. Verified by HSPICE simulation in 65 nm CMOS process, the standby leakage current of novel circuit is 24.13 hA, which is more than two-orders lower than that of the traditional design about 5.42 μA.

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期刊信息
  • 《北京大学学报:自然科学版》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:教育部
  • 主办单位:北京大学
  • 主编:赵光达
  • 地址:北京海淀区海淀路52号
  • 邮编:100871
  • 邮箱:xbna@pku.edu.cn
  • 电话:010-62756706
  • 国际标准刊号:ISSN:0479-8023
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2442/N
  • 邮发代号:2-89
  • 获奖情况:
  • 1997年第二届全国优秀科技期刊评比一等奖,1999年教育部“优秀自然科学学报一等奖”,1999年获首届国家期刊奖,中国期刊方阵“双高”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国数学评论(网络版),德国数学文摘,荷兰文摘与引文数据库,英国科学文摘数据库,英国动物学记录,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:18270