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利用光学图片判断二维薄膜材料的厚度
  • ISSN号：0957-4484
  • 期刊名称：Nanotechnology
  • 时间：2012
  • 页码：495713-495713
  • 相关项目：分子对于石墨烯进行载流子掺杂及修饰石墨烯光电学性质的研究
作者： 王英英|
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