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Instability of field emission form silicon covered with a oxide due to electron trapping
  • 期刊名称：J.Appl.Phys.
  • 时间：0
  • 页码：1996Vol.79,No.7
  • 语言：英文
  • 相关项目：真空微电子微波三极管的理论与实验研究
作者： 黄庆安|
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期刊论文 14
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